교환 뻣뻣함 상수 A_ex는 스핀파의 공명 자기장 H_SWR과 강자성 공명 자기장 H_FMR의 차에 선형적으로 비례한다. 본 연구에서는 두께가 100 nm인 NiFe 박막에서 A_ex의 각도 의존성을 분석하기 위하여 수평면에서 자기장 각도에 따른 H_SWR와 H_FMR를 측정하였다. NiFe 박막의 A_ex는 수평면의 자기장 각도와 무관하게 등방성 특성을 보였다. 본 연구에서 측정된 A_ex의 값은 10.9 × 10−7 erg/cm였으며, 이 값은 스핀파를 이용한 소자에 응용될 수 있다.

The exchange stiffness constant A_ex was linearly propositional to the difference of spin wave resonance field H_SWR and ferromagnetic resonance field H_FMR. In this work, we measured the H_SWR and H_FMR with in-plane angles in order to analyze the angular dependence of A_ex in NiFe thin film with thickness of 100 nm. The A_ex of NiFe thin film was shown isotropic behavior not depending on the inplane angles. The measured value of A_ex was 10.9 × 10−7 erg/cm and its value should be applied to the spin wave devices.